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CP/FT 测试程序开发:

1.可开发产品类型:

 1.  LDO、DC-DC、CP/OP、PWM、锂电保护、LED Driver、FAN Driver、Motor Driver等所有模拟器件

2.  Flash Memory 、Mix-Signal 、SOC 、CIS、Analog 

3. Test Program Development

2.中测与成测

 1. 中测:Prober for 6,8,12 Wafer

2. 成测:DIP、TO系列 PLCC、SOT、SSOP、TSSOP、TSOP、QFP、 TQFP、LQFP、BGA、DFN、QFN、LGA

3.可依据开发量产测试程序的ATE平台:

   J750(泰瑞达)、D10(蔚华科技)、Credence(ALS3000/ASL1000)、Advantest(爱德万)、ETS 200/300/364(Eagle)、V93000/V50(美国Verigy)、Accotest (华峰测控ACCOTEST)、T861(宏邦)等。

小批量产品工程测试验证:

可提供小批量产品基于ATE机台,手工测试验证、调试等。

www.bianbin.cn
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